并发缺陷检测技术研究进展

摘要：

多核时代的到来使得并发程序的设计备受人们关注.然而,并发程序的并发性和不确定性容易引发并发缺陷.因此,快速且有效地检测出这些并发缺陷尤为重要.首先,将目前常见的并发缺陷分为五大类(并发类型状态缺陷、死锁、数据竞争、原子性违背和顺序违背);随后,从软件运行的角度,将现有的并发缺陷检测技术分为静态分析、动态分析和动静结合分析,并对每一类进行详细的分析、比较和总结;接着,对并发缺陷检测技术的通用性进行分析和总结;最后,从通用准确的并发缺陷检测、软硬件相结合的并发缺陷检测、并发缺陷检测修复一体化、适用于松散内存模型的并发缺陷检测、安卓等其他应用平台的并发缺陷检测和分布式系统非确定性并发缺陷研究等方面,对并发缺陷检测技术的未来研究进行了探讨.

关键词：并发程序、并发缺陷、缺陷检测、软件测试

所属期刊栏目：46

分类号：TP311(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家自然科学基金61673384,61502497;南京大学计算机软件新技术国家重点实验室创新项目ZZKT2018B02;江苏师范大学博士学位教师科研支持项目17XLR001

在线出版日期：2019-06-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：13-20