结合多信号模型与遗传算法的板级电路测点选取方法

摘要：

针对传统的电路板测点选取方法需要的输入信息多、工作繁琐、效率低及难以得到全局最优解等问题,提出了一种基于多信号模型与遗传算法相结合的优化方法.首先,通过建立板级电路的多信号流系统模型,获取测点与对应板级电路组成单元的相关性矩阵,并对其进行进一步分析,得出测点组合的测试能力参数.在测点选取数量不大于给定值的情况下,选取测试能力参数作为遗传算法的适应度函数并进行优化搜索,以确定测点的优化选取方案.结合M ultisim仿真软件进行低通有源滤波电路系统的故障模拟实验,仿真结果表明,基于多信号模型与遗传算法选取的板级电路测点组合对低通有源滤波电路中的绝大部分故障都有良好的检测和隔离能力,取得了良好的效果,同时该方法也适用于多种其他电路.

关键词：板级电路、多信号模型、可达性分析、遗传算法、电路仿真

所属期刊栏目：45

分类号：TM930.9

资助基金：军委装发预研基金:基于云计算的测试体系结构及其关键技术研究9140A17040115JB32238

在线出版日期：2018-09-06（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：295-299