一种基于海明排序进行无关位填充的低功耗测试向量优化方法

摘要：

集成电路在测试过程中的测试功耗通常会远远高于集成电路正常工作时的功耗,而过高的测试功耗可能会造成电路损坏或是芯片烧毁.为了降低测试功耗,提出了一种基于海明排序进行无关位填充的低功耗测试向量优化方法.首先,对测试集中的测试向量按照无关位含量由多到少进行排序;然后,将测试向量按照海明距离由小到大进行排序;最后,对排序后的测试集进行无关位的合理填充,使得测试向量之间的相关性增大,从而降低测试功耗.以ISCAS'85国际标准电路作为测试对象进行,结果表明,相比于使用优化前的测试集,运用优化后的测试集明显降低了测试功耗.

关键词：测试向量、海明距离、无关位、低功耗设计

所属期刊栏目：45

分类号：TN431(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2018-05-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：249-253