用不同敏化方法提高超速测试的故障覆盖率

摘要：

面向小时延缺陷(small delay detect,SDDs)的测试产生方法不仅要求测试产生算法复杂度低,还要尽可能地检测到小时延缺陷.超速测试避免了因测试最长敏化通路而带来的测试效率过低的问题,而且它要求测试向量按敏化通路时延进行分组,对每组分配一个合适的超速测试频率,再采用一种可快速、准确选择特定长度的路径选择方法来有效地提高测试质量.同时,文中首次通过优先选用单通路敏化标准对短通路进行检测,对关键通路有选择地进行非强健测试,相对采用单一的敏化方法,能以很小的时间代价提高含有小时延缺陷的结点的跳变时延故障覆盖率(TDF).在ISCAS'89基准电路中对小时延缺陷的检测结果表明:用不同敏化方法进行测试产生,能在低的cpu时间里取得更高的跳变时延故障覆盖率.

关键词：小时延缺陷、单通路敏化、非强健测试、跳变时延故障覆盖率、超速测试

所属期刊栏目：41

分类号：TP306(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家自然科学基金项目60673085,60773207

在线出版日期：2014-06-03（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：55-58,90