时序PLD安全缺陷检测方法研究

摘要：

可编程逻辑器件(PLD)在电子设备中广泛应用,其安全缺陷检测已成为信息安全领域中一个富有挑战性的课题.通过分析PLD安全缺陷的存在形式.提出了基于状态转移图的安全缺陷检测方法.该方法统一了检测思路,采用了脱机式芯片逆向分析和在线式芯片逆向分析相结合的技术,适用于不同的PLD安全缺陷检测,同时根据存在形式提出了检测算法.最后通过模拟测试对该检测思路及算法的有效性进行了验证.

关键词：可编程逻辑器件、状态转移图、安全缺陷检测

所属期刊栏目：39

分类号：TP393.08(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家863目标导向项目2009AA01Z434

在线出版日期：2012-10-25（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：53-56,79