ASIC集成电路的可测性设计与技术实现

摘要：

ASIC集成电路设计开发中的隐含逻辑瑕疵与电路故障是芯片实现的最大困境,针对不同特性的电路提出了内部逻辑扫描、存储器内建自测试、边界扫描链插入以及ATPG自动测试向量生成的解决方案与技术方法,实现了SOC设计开发中逻辑与成片电路的主动侦测与跟踪寻径,经实践证明这些方法大大提高了复杂SOC研制的成功率.

关键词：SOC测试、可测性设计、主动测试技术、故障模型、测试向量自动生成

所属期刊栏目：36

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2009-05-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：289-292