时序电路等价性检验中的存储元素映射方法研究

摘要：

随着集成电路规模越来越大,系统的功能日益复杂,功能验证已成为整个设计流程的瓶颈.对于大规模的时序电路,传统基于状态空间遍历的等价性检验方法可能会遇到内存爆炸问题.为了降低等价性检验方法的复杂度,提高验证效率和处理大规模电路的能力,通常需要构造两个被验证电路的存储元素映射之间的映射关系,从而将时序电路等价性检验问题转化为组合电路等价性检验问题.较全面地介绍了时序电路等价性检验的基本方法及其研究进展,讨论了基于存储元素映射的时序电路等价检验方法的基本思想,并介绍了若干具有代表性的存储元素映射方法,展望了集成电路等价检验方法的研究发展方向.

关键词：集成电路、设计验证、等价性检验、存储元素映射

所属期刊栏目：36

分类号：TPP302.8

资助基金：国家"八六三"高技术研究发展计划2008AA04Z132;浙江省自然科学基金项目Y106707;浙江省科技计划项目2007C21045

在线出版日期：2009-05-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：285-288