ESPI条纹图像细化处理的研究

摘要：

@@ 1引言
散斑干涉测量技术是六十年代末发展起来的一种光学测试技术,具有非接触、测量精度高、对环境的防震要求低、可在明光下操作、能进行全场测量等特点,因而广泛地应用于光学粗糙表面的变形测量和无损检测.

机标关键词：干涉测量技术、无损检测、全场测量、光学、粗糙表面、测试技术、测量精度、变形测量、非接触、应用、环境、防震、操作

所属期刊栏目：29

分类号：TP3(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2005-12-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：91-93