采用变分自编码器的无监督压敏电阻表面缺陷检测

摘要：

为解决在压敏电阻表面缺陷检测中缺陷样本采集困难以及检测精度差的问题,提出一种采用深度卷积变分自编码器(DCVAE)的无监督表面缺陷检测方法,用于压敏电阻表面缺陷的检测.预处理阶段利用去背景、规范化以及图像差分技术对原始图像进行处理,精准提取出了差分图像,消除了无关数据特征对算法的影响.为了提升缺陷检测的精度,算法首先将空间注意力机制融入变分自编码器,有效地提取出了良品图像的特征;其次将重构前后图像相减得到残差图,突出缺陷区域,衰减非缺陷区域.通过与已有流行的两种无监督缺陷检测方法进行对比,实验结果表明,所提方法F1值至少提升了7.4％,准确率达98.58％.

关键词：缺陷检测、压敏电阻、无监督学习、空间注意力、变分自编码器

所属期刊栏目：28

分类号：TP399(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家重点研发计划;陕西省重点研发计划资助项目;陕西省重点研发计划资助项目;西安市科技计划资助项目

在线出版日期：2022-06-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共15页

页码：1337-1351