系统级芯片测试调度最优总线指定方法

摘要：

为了缩短采用系统级芯片设计的电子产品的测试时间,提出了一种基于遗传算法的系统级芯片测试调度总线指定方法.在该方法中,建立了最优测试调度的遗传算法模型.为了使算法过程更稳健,更快地趋近于全局最优解,在传统遗传算法的基础上引入了差分进化、精英策略、自适应变异等几种机制,并通过实验与基于整数线性规划的测试调度方法进行比较,结果表明,所需的测试时钟周期数较少,适应于测试大规模系统级芯片.

关键词：系统级芯片、测试调度、知识产权核、测试访问机制、遗传算法、差分进化

所属期刊栏目：12

分类号：TN4(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：国家高技术研究发展计划863计划2003AAIZ2210

在线出版日期：2006-11-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：1693-1697