10.3778/j.issn.1002-8331.2011.32.024
处理器电路的隔离测试方法研究
含处理器(CPU)电路的测试和故障诊断一直是测试领域的一个难点,在研究过程中,提出并设计了一种电气隔离测试方法.该方法通过对CPU电路基本属性分析,采用对CPU复位脚进行操作使其一直处于某种特定状态,并设计一套外围电路对其进行数据收发,从而实现将CPU从电路中“隔离”出来进行测试.实验结果表明,该方法具有其独特的优势.
自动测试、故障诊断、隔离测试、复杂电路
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TP277(自动化技术及设备)
2012-03-16(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
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