基于多故障模型的并发测试生成方法

摘要：

精简测试向量集是解决电路测试问题的一种行之有效的方法.针对故障电路,采用多故障模型方法可以简化有多个单故障的电路,且保持电路功能完整.论文在结构分析的基础上,利用多故障模型寻找故障集中的并发故障,建立并发关系图,并运用分团的思想对故障集中的并发故障进一步划分,以获得故障集的并发测试集.与传统的方法相比,并发测试生成将获得更加精简的测试向量集.

关键词：故障压缩、多故障模型、并发测试集、并发故障

所属期刊栏目：43

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：国家自然科学基金90407008;60633060;安徽省自然科学基金050420103

在线出版日期：2007-12-03（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：113-115