基于边界扫描技术的嵌入式处理器测试方法研究

摘要：

现代先进微处理器有非常高的集成度和复杂度,而且芯片管脚数相对较少,必须要有一定的自测试设计和其它的可测试性设计来简化测试代码,提高故障覆盖率.该文提出了嵌入式处理器80386 EX芯片内部功能的测试方案,设计了符合JTAG规范的测试系统结构,实现了芯片的内部功能部件的测试.接着,通过实验证明了文章所提方法的可行性.最后讨论了下一步的研究工作.

关键词：边界扫描、80086EX、测试

所属期刊栏目：39

分类号：TP33(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：111-113,152