系统级BIT设计中的测试选择方法

摘要：

根据系统级BIT设计的要求,明确了系统级BIT设计中测试选择所需解决的问题,提出了测试选择的基本思想;在此基础上,利用系统级故障隔离的间接熵法实现了系统级BIT设计中的测试选择,并引入测试时间和故障发生频率参数对间接熵法进行了修正,获得了可以较快地判断系统是否可用并隔离大概率故障的测试集.理论分析及实验数据表明,该文提出的系统级BIT设计中测试选择方法是有效的.

关键词：系统级BIT、测试选择、信息熵、故障概率

所属期刊栏目：37

分类号：TP39(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：127-129,153