基于关联分类的FPGA缺陷检测水平量化方法

摘要：

为客观、全面地量化FPGA缺陷检测水平,并以此实现FPGA测试方检测水平比对,在统一的缺陷分类标准基础上,对面向FPGA缺陷的关联分类技术进行研究,借此建立不同项目间统一的水平量化标准,结合马尔科夫链理论,研究针对检测水平变化趋势的分析方法,给出稳定水平量化方法.结合实例,阐述应用该方法的一般步骤,结果验证了该方法在FPGA缺陷检测水平的量化与对比工作上的可行性与有效性.

关键词：现场可编程门阵列、缺陷检测、缺陷分类、关联规则、马尔科夫链

所属期刊栏目：40

分类号：TP311(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2019-08-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：1872-1877