面向Nand Flash自适应纠错码方案研究与设计

摘要：

为提升面向闪存的纠错码设计方案的灵活性,降低编解码延时,提出一种自适应纠错码方案.建立闪存数据存储等效信道模型,通过信道有效性参数建立比特错误率与纠错码纠错能力间量化评估关系;依据物理块擦除次数及数据存储时间衡量其比特错误率,结合设计者预期的信道有效性与待编码信息组长度,利用信道有效性分析结果,自动为其适配纠错码类型、最大纠错能力及生成多项式系数等参数.以基于物理块分类的纠错码设计方案为例,对比传统纠错码设计方案性能,对比结果表明,自适应纠错码方案在降低编解码时间及冗余度方面具有明显优势.

关键词：闪存生命周期、比特错误率、纠错码、可靠性、灵活性

所属期刊栏目：38

分类号：TP311(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2017-07-31（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：1681-1685