基于PXI总线的数字电路板测试系统设计
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.16208/j.issn1000-7024.2015.10.043

基于PXI总线的数字电路板测试系统设计

引用
针对当前数字电路板的高密度化和复杂多样化,为满足其测试需求,设计一套基于 PXI总线的数字电路板测试系统。其实现包含硬件设计和软件设计两个部分,硬件方面包含系统控制器、PXI机箱和任意波形发生器等功能模块;软件方面通过C语言进行实现。该测试系统和以往数字电路板测试设备相比,具有体积小、处理速度快、功耗低和抗干扰能力强等优点,最大限度保障了故障覆盖率。

PXI总线、测试系统、功能模块、C语言、故障覆盖率

TP206.3(自动化技术及设备)

2015-10-28(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共5页

2828-2831,2837

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

计算机工程与设计

1000-7024

11-1775/TP

2015,(10)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn