基于GA-SVM的数模混合电路故障诊断研究

摘要：

针对数/模混合电路的故障诊断,将遗传算法与最小二乘支持向量机相结合,提出一种二值分类故障诊断方法,在保证故障诊断的准确率和可靠性的基础上,实现多类故障的快速诊断.采用遗传算法优化支持向量机的结构参数和核函数参数,建立基于支持向量机的故障分类模型；提出适用于数/模混合电路的故障诊断的二值分类策略；在Pspice环境下进行仿真验证,实验结果表明,该方法有效提高了的故障诊断的精度和效率,在类别较多故障模式中具有明显的优势和实用价值.

关键词：数模混合电路、故障诊断、遗传算法、二值分类器、最小二乘支持向量机

所属期刊栏目：33

分类号：TP391(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2013-01-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：3984-3989