基于XP Embedded的嵌入式数字测厚仪设计与实现

摘要：

如何提高开发效率、降低成本已经成为当前嵌入式系统开发方法研究中的热点.针对嵌入式数字测厚仪的研制要求,设计了基于普通PC机硬件平台、采用Windows XP Embedded进行嵌入式软件开发的技术路线.根据阳极溶解库仑法的原理,用PC机和自研的测厚采集卡实现了金属镀层厚度的测量、分析与数据存贮、打印等功能.实际开发和应用表明,这是一种高效、低成本的研发方法,此方法适用于类似的数字化仪器的开发研制.

关键词：Windows XP Embedded、嵌入式系统、运行时映像、镀层测厚、阳极溶解库仑法

所属期刊栏目：27

分类号：TP274(自动化技术及设备)

在线出版日期：2006-04-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：149-151,168