存在故障的数字微流控芯片重构后测试

摘要：

数字微流控芯片广泛用于生命科学领域,它对可靠性的要求很苛刻.由于数字微流控芯片的可重构性,在测试诊断的故障数小于一定比例时,电极阵列会被重构以撇开故障单元继续使用,而对于重构后的不规则电极单元,必须在使用前做强健完备的测试.首次提出对重构后的不规则电极单元进行并行测试:将重构电极阵列分为多个等大子阵列,每个子阵列分配1个测试液滴进行并行测试,目标为最小化测试时间.本文将测试时间最小化问题转化为分发池的分配问题,并为该NP完全问题建立ILP模型,计算最优测试时间.实验结果表明,该方法避免了重复诊断,最小化了故障后重构芯片的测试时间,获得了较好的测试效果.

关键词：数字微流控芯片、故障后重构、并行测试

所属期刊栏目：41

分类号：TP306(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家自然科学基金61472123;湖北省教育厅重点科研项目D20174501;湖北省自然科学基金2014CFC1091;湖北理工学院创新人才项目13xjz05c;湖北理工学院优秀青年科技创新团队13xtz10;湖北省教育厅科研项目B2014026

在线出版日期：2019-06-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：452-457