一种基于可重用激励发生机制的SoC验证平台

摘要：

在系统芯片的设计中,传统的激励发生机制耗费人工多且难以重用,严重影响了仿真验证的效率.针对此问题,构建了一种基于可重用激励发生机制的虚拟SoC验证平台.该平台利用可重用的激励发生模块调用端口激励文件,仿真时将端口激励文件转换成对应于验证电路端口的时序信号.通过对通用同步/异步串行接收/发送器、中断及定时器等功能模块的验证,证明了激励发生机制具有较强的可观察性、可控制性及可重用性.验证结果分析表明,在验证不同的功能点时仅需修改固件及端口激励文件,使验证平台在重用时减少代码修改量,提高了灵活性和验证效率,缩短了系统芯片的验证时间.

关键词：可重用、激励发生机制、虚拟SoC验证平台、端口激励文件

所属期刊栏目：38

分类号：TN402(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：江苏省自然科学基金BK20130156;江苏省六大人才高峰资助项目DZXX-027;中央高校基本科研业务费专项资金JUSRP51510;江苏省普通高校研究生实践创新计划项目SJZZ_0148,KYLX15_1192

在线出版日期：2016-08-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：1309-1315