一种去冗余的SIFT特征提取方法
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3969/j.issn.1007-130X.2016.04.031

一种去冗余的SIFT特征提取方法

引用
基于SIFT特征点的配准是图像配准领域里常采用的一种方法.但是,在复杂背景下,图像SIFT特征点通常量大且冗余,这会带来浪费存储空间、容易误配、配准耗时多等问题.针对这些缺点,提出了一种去冗余的SIFT特征提取算法.首先提取出SIFT特征点,然后根据特征点周边梯度情况,判断特征点是否落于目标区域,进而保留目标区域特征点,删除背景区域特征点,减少特征点数量的同时也实现了去冗余.提取所得的特征点质量好坏由落入目标区域的点数和落入背景区域的点数比例判断.实验结果表明,本算法减少了复杂背景下大量的干扰特征点.这将为后续的配准工作提高精度和效率.

SIFT特征点、去冗余、梯度、目标区域、背景区域

38

TP301(计算技术、计算机技术)

2016-05-23(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共6页

827-832

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

计算机工程与科学

1007-130X

43-1258/TP

38

2016,38(4)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn