结合协方差与变异系数的密码芯片能量泄漏评估模型

摘要：

在信息技术安全性评估通用准则中,必须使用具体的侧信道分析方法来评估密码芯片工作时的能量泄漏情况.为降低评估过程对侧信道分析方法的依赖性,通过分析能量迹各点之间的关系,构建一种基于协方差矩阵变异系数的能量泄漏评估模型.利用协方差矩阵度量能量迹各点间的线性关系,并引入变异系数衡量矩阵内各元素的差异程度,从而评估芯片工作时的能量泄漏情况.基于DPA contest v2、SAKURA-G、DPA contest v4和ATMEGA2560数据集的实验结果验证了该模型的有效性.与现有密码芯片能量泄漏评估模型相比,其具有操作简单和可行性强的优点,可使实验人员无需深入了解侧信道分析知识背景即可快速评估芯片能量消耗情况.

关键词：侧信道分析、能量泄漏、安全性评估通用准则、协方差矩阵、变异系数

所属期刊栏目：47

分类号：TP309.7(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家自然科学基金61404175

在线出版日期：2021-03-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：37-42,52