一种多扫描链混合测试数据压缩方法

摘要：

针对集成电路测试数据量大、测试应用时间长和测试结构复杂等问题,提出一种多扫描链的混合测试数据压缩方法.对于含无关位较多的测试向量,使用伪随机向量产生器生成.对于含无关位较少的向量,则直接使用自动测试设备存储.将该方法与另一种基于扫描阻塞的测试方法进行比较,理论分析和实验结果表明,该方法对数据的压缩效果优于单纯用伪随机方式的扫描阻塞测试方法.

关键词：测试数据压缩、扫描阻塞、混合测试方法、测试片段、泊松分布

所属期刊栏目：38

分类号：TP331(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家自然科学基金资助项目60773207;湖南省大学生创新实验基金资助项目2010-224-114

在线出版日期：2012-11-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：245-247