10.3969/j.issn.1000-3428.2012.16.061
大规模芯片测试系统的研究与实现
针对大量芯片测试的实时管理问题,提出一种测试系统,将测试工作拆分为模块,分步骤、分阶段对芯片测试管理、状态监控采用摘要和层次化的处理,给出测试工作流程和数据结构.实验结果表明,该方法产生测试数据少、时间消耗小,能够有效解决大规模芯片测试的实时问题.
大规模芯片、测试系统、模块、统计、测试管理、状态监控
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TP311(计算技术、计算机技术)
“核高基”重大专项2011ZX01039-001-002
2012-11-16(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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