10.3969/j.issn.1000-3428.2012.13.066
基于覆盖率的微处理器运算单元验证技术
根据微处理器运算单元功能较多的特点,基于覆盖率的验证方法,设计一种自检查的测试程序生成器(SATG)验证方法.SATG采用一种“闭环”结构,并以功能覆盖率量化分析为核心,使用随机生成和约束求解的方法,自动生成验证程序.实验结果表明,该方法在微处理器运算单元的验证中,能提高验证效率和覆盖率,增强验证平台的可重用性.
功能验证、运算单元、约束求解、随机生成、覆盖率、SystemVerilog语言
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TP391(计算技术、计算机技术)
上海市自然科学基金资助项目“嵌入式CPU”B17AI060-07139
2012-10-29(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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