基于SRAM结构的FPGA抗辐射布局算法

摘要：

分析由辐射造成的单粒子翻转(SEU)软错误,在通用布局布线工具的基础上,提出一种基于SRAM结 构的现场可编程门阵列(FPGA)抗辐射布局算法.该算法通过优化电路单元在FPGA中的布局位置,减少布线资源开路敏感错误、短路敏 感错误以及SEU敏感点的数目.测试结果表明,该算法能减少SEU软错误,提高FPGA的抗辐射性能,并且无需增加额外的设计成本和硬 件开销.

关键词：现场可编程门阵列、抗辐射、布局算法、计算机辅助设计、单粒子翻转、软错误

所属期刊栏目：38

分类号：TN47(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：“核高基”重大专项2009ZX01034-002-004-003;专用集成电路与系统国家重点实验室自主课题基金 资助项目09XT004

在线出版日期：2012-05-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：236-239