光电成像探测系统的性能预测方法

摘要：

提出一种光电成像探测系统的性能预测方法.介绍包含传感器、处理器的探测系统模型.根据信号检测理论,以最小错误概率准则设计似然比探测器,利用中心极限定理计算错误率.实验结果表明,随着量化位数的增大,系统错误率逐渐减少,且计算错误率与仿真错误率趋于一致.

关键词：光电系统、成像探测、性能预测、假设检验

所属期刊栏目：38

分类号：TP301.6(计算技术、计算机技术)

资助基金：中国科学院国防科技创新基金资助项目CXJJ-11

在线出版日期：2012-06-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：7-8