用于成品率分析芯片的LVS方法

摘要：

研究成品率分析芯片的特点和设计流程,提出适用的LVS万法.该方法结合传统的LVS及形式验证,能够解决成品率分析芯片中违反设计规则、版图和电路图不匹配等特殊结构的验证问题.将该方法与传统验证流程相融合,用于成品率分析芯片的设计和验证.实验结果证明,成品率分析芯片验证流程具有正确性和稳定性.

关键词：成品率分析芯片、形式验证、LVS技术、有序二叉判定图

所属期刊栏目：37

分类号：TP303(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家"十一五"高端通用芯片科技重大专项基金资助项目2008ZX01035-001-06

在线出版日期：2012-03-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：225-227