芯片级BIST控制器的设计与实现

摘要：

为适应某型国产航电设备故障的实时自检测及定位需要,设计一个针对自测试电路的芯片级BIST控制器.传统的测试方法存在测试时间长和故障覆盖率不高的缺点.为此,采用伪随机测试向量和确定性测试向量相结合的混合BIST技术及多扫描链、压缩向量技术,对芯片级BIST控制器进行研究,给出功能模块的设计方案.利用Quartus Ⅱ软件对设计进行仿真,测试结果证实该设计可达到某型航电设备的故障自检测要求.

关键词：控制器、内建自测试、芯片级、多扫描链、压缩向量

所属期刊栏目：37

分类号：TP332.3(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家部委基金;航空科学基金

在线出版日期：2012-03-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：238-240,251