一种基于扫描链阻塞技术的低费用测试方法

摘要：

为进一步降低测试功耗及测试应用时间,提出一种基于扫描链阻塞技术且针对非相容测试向量的压缩方法.该方法考虑前后2个测试向量之间不相容的扫描子链,后一个测试向量可以由扫描输入移入若干位以及前一个测试向量的前若干位组合而成.实验结果表明,该方法能够有效减少测试应用时间,提升效率.

关键词：可测性设计、扫描链阻塞、低费用测试、确定性测试

所属期刊栏目：37

分类号：N945(系统科学)

资助基金：国家自然科学基金资助项目60673085,60773207

在线出版日期：2011-11-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：254-255,258