10.3969/j.issn.1000-3428.2011.04.101
基于TSP的低功耗低费用测试方法
扫描链阻塞技术可以有效地降低电路测试时的峰值和平均功耗,但是扫描测试应用时间有所增加.为了解决这一问题,通过有效利用测试向量之间的相容性,提出一种基于TSP问题的降低测试应用时间的方法.实验结果表明,该方法能够较大幅度地降低测试应用时间.
可测性设计、扫描链阻塞技术、无关位填充、确定性测试、低费用测试
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TP302.8(计算技术、计算机技术)
国家自然科学基金资助项目60673085,60773207;教育部留学回国人员科研启动基金
2011-09-07(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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