基于接口参数的列控中心测试用例生成算法

摘要：

在接口参数两两组合全面覆盖理论的基础上,提出一种基于树型结构的改进测试用例生成算法.该算法综合考虑外部接口参数和取值组合所产生的系统影响,具有一定的通用性及稳定性,并且在时间复杂度及空间复杂度上较以往的算法都有所改进.算法在CTCS2级列控中心的接口测试中取得了很好的效果,测试质量和测试效举均得到提高.

关键词：软件测试、黑盒测试、列控中心、树型模型、测试用例

所属期刊栏目：37

分类号：TP311.52(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家自然科学基金资助项目60674004;铁道部科技研究开发计划基金资助项目2007X003

在线出版日期：2011-04-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：69-71