基于FPGA的NAND Flash坏块处理方法

摘要：

针对NAND Flash在存储数据时对可靠性的要求,分析传统坏块管理方式的弊端,提出一种基于现场可编程门阵列(FPGA)的坏块处理方案,采用在FPGA内部建立屏蔽坏块函数的方法屏蔽坏块.该方法彻底屏蔽对坏块的操作,可以实现对Flash的可靠存储.实际工程应用证明其具有较高的可靠性.

关键词：闪存、现场可编程门阵列、坏块

所属期刊栏目：36

分类号：TP333(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2010-05-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：239-240,243