10.3969/j.issn.1000-3428.2010.02.056
二元周期序列线性复杂度的2位置错误谱
在流密码中,序列的k错线性复杂度是衡量流密码体系稳定性的重要指标,但周期序列中位置上值的变化也会影响序列的线性复杂度.该文基于周期为2~n的二元序列,描述在其一个周期序列的Hamming重量为偶数的情况下,改变其中2个位置后所得到的线性复杂度的变化状况,即序列线性复杂度的2位置错误谱.
流密码、k错线性复杂度、2位置错误谱
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TP309(计算技术、计算机技术)
国家自然科学基金资助项目10771100
2010-03-26(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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