10.3969/j.issn.1000-3428.2008.z1.045
存储器内建自测试技术在芯片设计中的应用
针对SoC芯片中存储器模块的测试问题,在结合设计工具的基础上,提出了存储器的测试结构和方法,并且讨论了存储器模型的应用与调试.
可测性设计、存储器内建自测试、双端口寄存器堆文件
34
TP391(计算技术、计算机技术)
2008-12-10(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
122-124
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10.3969/j.issn.1000-3428.2008.z1.045
可测性设计、存储器内建自测试、双端口寄存器堆文件
34
TP391(计算技术、计算机技术)
2008-12-10(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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