扩展相容性多扫描树的设计

摘要：

针对实际电路具有多个扫描输入的情况,设计出一种新的具有多个扫描输入的扫描树结构,该结构能有效降低测试应用时间和平均测试功耗.实验结果表明,当有两个扫描输入时,测试应用时间最高可降低52.4%,平均功耗最高可降低60.8%.

关键词：多扫描树、可测性设计、全扫描测试

所属期刊栏目：34

分类号：TP302(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家自然科学基金资助项目60673085.60473031

在线出版日期：2009-02-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：234-235,238