10.3969/j.issn.1000-3428.2008.10.076
基于改进Radon变换的芯片几何特征检测
在分析芯片几何特征检测的基础上,根据Radon变换的基本思想,提出一种用于芯片几何特征检测的改进Radon变换算法,对该算法在矩形芯片边界直线的检测过程中确定边界直线、剔除干扰和加快速度的具体应用进行了研究.试验结果表明,与传统算法相比,该算法可以有效提高识别效率30%,同时具有鲁棒性好及检测结果准确等特点.
Radon变换、直线检测、图像处理、模式识别
34
TP391.4(计算技术、计算机技术)
2008-07-14(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
210-211,240