一种考虑缺陷关联的软件可靠性增长模型

摘要：

非齐次泊松过程类软件可靠性增长模型(NHPP-SRGMs)是评价软件产品可靠性指标的有效工具,但大多数该类模型都未考虑软件缺陷关联这一测试过程中普遍存在的现象.该文在考虑软件缺陷关联关系的基础上对缺陷进行分类,提出一个改进的NHPP类软件可靠性增长模型.在一组失效数据上的实验分析表明,改进的模型具有较好的拟合效果和预测能力.

关键词：软件可靠性增长模型、非齐次泊松过程、软件缺陷关联

所属期刊栏目：34

分类号：TP311(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家高技术研究发展计划863计划2006AA01Z182;国家自然科学基金60473060

在线出版日期：2008-06-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：44-46