集成电路高层故障模型评估方法

摘要：

给出了利用测试向量进行评估的基本理论方法,以及强对应集和弱对应集的定义及推论.按该方法,依不同模型生成测试向量,然后进行相互间的覆盖计算,以比较模型的优劣.最后对ITC99-benchmark电路进行实验,结果表明该方法是有效的.

关键词：模型评估、强对应集、弱对应集

所属期刊栏目：32

分类号：TP302(计算技术、计算机技术)

资助基金：中国科学院资助项目90207002;60242001;中国科学院基础研究项目20036160

在线出版日期：2006-03-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：228-229,232