系统级的可测性设计
随着IC设计的不断发展,SoC由于其可重用性而被广泛应用,这使得可测性设计(DFT)也被提高到系统级的高度.从顶层模块考虑,必须对不同模块采用不同的测试策略,合理分配测试资源.该文通过实例,提供了一种可行的系统级DFT方案.
可测性设计、内建自测、扫描测试
31
TP391(计算技术、计算机技术)
国家高技术研究发展计划863计划2003AA1Z1350
2005-11-17(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
202-204
点击收藏,不怕下次找不到~
可测性设计、内建自测、扫描测试
31
TP391(计算技术、计算机技术)
国家高技术研究发展计划863计划2003AA1Z1350
2005-11-17(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
202-204
国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1
违法和不良信息举报电话:4000115888 举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn