基于微处理器的可测性设计

摘要：

由于微处理器结构复杂、测试困难,作者在微处理器设计中插入内建自测试(BIST)电路,对指令译码部件的可编程逻辑阵列(PLA)电路和执行部件的控制只读存储器(CROM)电路进行测试.模拟结果表明,微处理器可分别在测试模式与正常工作模式下运行.在测试模式下,微处理器芯片中近40%的晶体管可用自检办法解决.

关键词：可测性设计、微处理器、内建自测试、线性反馈移位寄存器

所属期刊栏目：28

分类号：TP806+.1(远动技术)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：190-191,252