增强组合电路脉冲窄化效应的软错误率优化布局方法

摘要：

为了提高芯片抗辐照性能, 提出了一种基于电荷共享效应的组合电路软错误率优化布局方法. 首先减少已有 quenching单元对间距以增强脉冲窄化效应; 然后通过插入和交换操作增加电路中 quenching单元对数量, 以提高电路发生脉冲窄化效应的概率; 最后实现了一个组合电路软错误率优化布局及评估平台, 可自动地完成布局及软错误率评估. 模拟结果表明, 该方法可以减小最终被捕获的脉冲宽度, 减少14%~26%的软错误率.

关键词：软错误率、电荷共享效应、脉冲窄化效应、单粒子瞬态、详细布局方法、软错误率评估

所属期刊栏目：30

分类号：TP391.41(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家自然科学基金61133007,61402505,61772540

在线出版日期：2018-06-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：1158-1165