基于Viterbi的低功耗确定性测试方案

摘要：

随着集成电路制造技术的不断发展,芯片测试已经成为一个令人关注的热点.针对集成电路测试中存在测试数据量大、测试功耗高等问题,提出一种基于Viterbi的低功耗测试压缩方案.首先利用测试立方的X位做低功耗填充来增强解码后测试模式相邻位之间的一致性;然后以增加测试立方中的X位为目标进行分段相容编码,将填充后的大量确定位重新编码为X位,从而提高Viterbi压缩中种子的编码效率;最后利用Viterbi算法压缩编码后的测试立方集.整体方案以分段相容编码思想为基础,建立了一个协同解决测试压缩和测试功耗问题的测试流程.实验结果表明,文中方案不仅能取得较好的测试数据压缩率,减少测试存储量,而且能够有效地降低测试功耗,平均功耗降低53.3%.

关键词：低功耗测试、测试数据压缩、分段相容编码、Viterbi算法

所属期刊栏目：28

分类号：TP391.76(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家自然科学基金61204046,61474035,61306049;国家自然科学基金重点项目61432004;高等学校博士学科点专项科研新教师基金2013JYXJ0650

在线出版日期：2016-06-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共9页

页码：821-829