覆盖率驱动的随机测试生成技术综述

摘要：

随机测试生成技术是当今大规模集成电路仿真验证流程中的一项重要支撑技术.覆盖率驱动的随机测试生成方法是目前该领域研究的热点之一,其目标是通过覆盖率指导测试向量生成,减少重复测试向量,加速验证的收敛过程,提高验证的自动化程度和效率.文中全面综述了覆盖率驱动的随机测试生成技术的发展历程、研究现状和技术分类,并结合具体实例对各种方法及其面临的主要问题进行了讨论、评价和总结.

关键词：验证、VLSI、随机测试生成、覆盖率驱动的测试生成

所属期刊栏目：21

分类号：TP302(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家"八六三"高技术研究发展计划2008AA110901,2007AA01Z112;国家自然科学基金60603049;北京市自然科学基金4072024

在线出版日期：2009-05-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共14页

页码：419-431,441