保形(Conformal)结构互连电容的BEM模拟
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3321/j.issn:1003-9775.2001.08.003

保形(Conformal)结构互连电容的BEM模拟

引用
介绍了一种基于扫描线的复杂保形介质结构快速生成算法.该算法应用多边形的扩展运算和集合运算形成保形介质,同时处理保形介质中的凹槽,并已实现于边界元素法三维互连寄生电容提取软件B3D中.数值结果表明,该算法可靠,并有很高效率.

边界元素法、保形介质、扫描线

13

TN47(微电子学、集成电路(IC))

国家自然科学基金69876024;美国Synopsys公司资助项目

2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共7页

684-689

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

计算机辅助设计与图形学学报

1003-9775

11-2925/TP

13

2001,13(8)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn