DCS嵌入式设备参数测量方法的研究与仿真

摘要：

针对DCS分布式控制系统中的嵌入式参数进行准确测量,要求DCS设备的分布式高精度控制.但DCS设备以分布式控制为主,设备参数之间的相互影响较为复杂.大部分控制参数为非线性参数,参数变化动态性较强.传统的测量算法无法避免非线性控制过程中参数的动态变化,导致参数测量的准确性降低.提出基于频率倒谱系数的DCS嵌入式参数测量方法.采用余弦变换的方法对测量参数的不同频段的频谱进行分解,使不同的频谱都独立出来;通过汉明窗(Hammin)对测量参数进行分帧处理,使用三角形滤波器进行滤波处理,对Mel频率进行转换得到频率倒谱系数(MFCC),并进行一阶差分处理,得到准确的DCS嵌入式参数,完成DCS嵌入式参数的测量.仿真结果表明,改进算法能够提高DCS嵌入式参数测量的准确率和速度.

关键词：嵌入式、参数测量、频率倒谱系数

所属期刊栏目：33

分类号：TP391.9(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2016-08-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：410-413