ISAR成像中MTRC校正的新插值算法

摘要：

研究雷达成像优化问题,在雷达成像中,双线性插值方法是一种常用、而且高效的校正散射点越分辨单元走动(MTRC)现象的插值算法,但由于其插值精度不高,会产生图像模糊的问题.为解决上述问题,采用目标回雷达波数据结构,并借鉴双线性插值方法进行仿真试验,提高了插值的精度,改善最终成像质量.通过对不同目标进行成像,验证所推导出的新的插值格式,不仅对越分辨单元走动现象有良好的校正能力,而且与应用双线性插值方法所取得的雷达成像仿真结果相比较,使用所推的双线插值格式所得结果更加清晰.针对复杂目标的仿真结果表明,改进插值格式能很好地适用于复杂目标的成像计算,具有较好的实用性.

关键词：雷达成像、散射点越分辨单元走动、双线性插值算法、复杂目标

所属期刊栏目：29

分类号：TP301.6(计算技术、计算机技术)

资助基金：陕西省自然科学基础研究计划2009JM8001-2;西北工业大学基础理论研究NPU-FFR-JC201039

在线出版日期：2013-03-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：268-271