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10.7643/issn.1672-9242.2022.08.001

电子部组件延寿分析

引用
由于军用电子设备的高可靠性以及列装之前的测试无法完全模拟出真实的服役环境,导致测试结果的参考意义不大.鉴于此,文中将以电子部组件的任务剖面作为基础,在制作环境载荷谱时,参考影响电子部组件寿命的关键因素,将电子元器件及焊点疲劳失效的机理模型作为理论依据.在绘制电子部组件的CAD模型时,进行适当简化,使用ANSYS软件对其进行多载荷耦合作用下的有限元仿真,找出电子元器件的薄弱点,并对关键部位进行寿命预测,为军用电子设备故障的初步诊断及装备延寿分析提供借鉴.

电子部组件、任务剖面、环境谱、电子元器件、焊点、装备延寿

19

TJ760(火箭、导弹)

国家自然科学基金51975580

2022-09-14(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共7页

前插1-前插2,1-6

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1672-9242

50-1170/X

19

2022,19(8)

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