基于Wiener过程的电子测量设备性能退化建模与寿命预测

摘要：

目的 开展电子测量设备寿命预测,评价其健康状态,提升装备状态监测的准确性,充分发挥装备性能.方法 利用电子测量设备长期观测的性能退化数据,基于Wiener过程建立电子测量设备性能退化模型和可靠性模型,并结合环境剖面参数,进行性能退化模型参数估计.结果 以某型电子测量设备为例,建立了拟合性较好的性能退化建模,并进行寿命预测.结论 该方法降低了电子测量设备在寿命预测过程中的试验成本,提升了寿命预测技术的实践能力,具有一定的工程应用价值.

关键词：Wiener过程、电子测量设备、退化、寿命预测

所属期刊栏目：16

分类号：TJ01(一般性问题)

在线出版日期：2019-04-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：67-70